Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
https://elib.vku.udn.vn/handle/123456789/6024| Nhan đề: | VLSI Design and Test for Systems Dependability |
| Tác giả: | Shojiro, Asai |
| Từ khoá: | VLSI Design Systems |
| Năm xuất bản: | 2019 |
| Nhà xuất bản: | Springer Nature |
| Mô tả: | pp: 792. |
| Định danh: | https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9 https://elib.vku.udn.vn/handle/123456789/6024 |
| ISBN: | 978-4-431-56594-9 |
| Bộ sưu tập: | Vi mạch bán dẫn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.