Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
https://elib.vku.udn.vn/handle/123456789/6244| Nhan đề: | Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability |
| Tác giả: | Ashok, K. Sharma |
| Từ khoá: | Semiconductor Memories |
| Năm xuất bản: | 1997 |
| Nhà xuất bản: | Wiley |
| Mô tả: | pp: 473 |
| Định danh: | https://elib.vku.udn.vn/handle/123456789/6244 |
| ISBN: | 0-7803-1000-4 |
| Bộ sưu tập: | Thiết kế Vi mạch bán dẫn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.